激光测厚仪的测量原理是什么？

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。
激光在线测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。

激光测厚仪是采用激光双反射测量方式实现的。其测量原理是利用激光位移传感器测量被测物的上下位移而算出被测物的厚度，当被测物的厚度发生变化后，激光发生器发射的激光照射到被测物，经反射后照射到激光接收器上的位置将发生位移变化，通过几何计算便可知被测物厚度的变化量，并将厚度信号以数字或曲线方式输出。
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