x衍射仪可以探测半导体的晶格结构，从而得出材料生长好坏，缺陷大小。 1、物相定性分析 2、物相定量分析 3、结晶度分析 4、晶粒尺寸分析 5、晶体结构分析 http://www.bandwise.com.cn/serve/index.asp?aid=14 自己去看
